技术类型：发明专利
行业分类：电子信息
技术成熟度：中试阶段
交易方式：面谈
交易价格：面谈
项目介绍项目简介：大批量闪烁晶体性能测试设备。可同时对面积大于40mm*40mm的闪烁晶体阵列进行测试并自动记录阵列中各晶体像素的发光产额和能量分辨率，是对闪烁材料进行质量检测与控制的理想工具。
应用行业：电子与信息,其他
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